表面解析・寸法

検査・測定機器一覧

検査・測定機器一覧
機器名 品番 メーカー
走査電子顕微鏡(SEM) VE-8800 (株)キーエンス 2
X線元素分析装置
(エネルギー分散型X線元素分析装置)
INCAxact検出器 オックスフォード・インストゥルメンツ(株) 2
画像寸法測定器 IM-6500 (株)キーエンス 2
レーザ顕微鏡 VK-8500 (株)キーエンス 1
光沢度計 ND-11 日本電色工業(株) 1
デジタルマイクロスコープ VHX-1000 (株)キーエンス 1
VHX-600 (株)キーエンス 1
VHX-500F (株)キーエンス 2
VHX-200 (株)キーエンス 1

表面解析・寸法

走査型電子顕微鏡(SEM)+エネルギー分散型X線元素分析装置(EDS)

SEMでは細く絞った一本の電子線で視野を走査します。めっき皮膜の粒子状態を観察することができます。

また、分析装置を用いることで試料中の含有元素を調べることが出来ます。成分が未知な試料に含まれる元素を検出することが出来ます。

イメージ:VE-8800
VE-8800

画像寸法測定器

めっき後のエリアを測定します。通常は物体から離れるほど小さくなり、逆に近づくほど大きく結像します。その為、測定箇所の個人差や熟練度の差によるバラツキや誤差が生じます。

しかし、テレセントリックレンズにより距離に関わらず同じサイズで結像する為、安定した測定が出来ます。

イメージ:画像寸法測定器
画像寸法測定器

立山電化工業株式会社

〒933-0806 富山県高岡市赤祖父546番地

TEL(0766)22-2377 FAX(0766)25-7466

COPYRIGHT 2012 © TATEYAMA DENKA CO., LTD.ALL RIGHT RESERVED.